冠层分析系统
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型号

Sunscan

分类:

关键词: 冠层分析系统


用途:
通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
技术指标:
探测器
探测器工作区域:1000×13mm宽,传感器间距15.6mm
探测器光谱响应:400 ~ 700nm (PAR)
探测器测量时间:120ms
探测器分辨率:0.3μmol. m-2.s-1
探测器最大读数:2500μmol.m-2.s-1
操作温度:0 ~ 60℃
传感器
PAR测量范围:0-2500μmol.m-2.s-1(总的和散射)
PAR精度
总辐射:±10μmol.m-2.s-1±12%
散射:±10μmol.m-2.s-1±15%
太阳总辐射测量范围:0-1250 W/m2
总辐射精度
总辐射:±5 W/m2 ±12%
散射:±20 W/m2±15%
光照度测量范围:0-200klux
光照度精度
总辐射:±0.6klux±12%
散射:±0.6klux±15%
发射频率:434MHz
无线发射距离:最大250m,在植被中可传输100到200m
手持终端
屏幕:1/4VGA屏幕,太阳光下依然显示清晰
操作系统:Windows Mobile6
显示项目:LAI、PAR平均值、每个传感器的读数
手持终端工作环境:IP67防护等级,-30-60℃
手持终端存储:支持>100M