工业痕量气体分析仪(H₂O, NH₃, HCI 和 HF)
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| 工业痕量气体分析仪(H₂O, NH₃, HCI 和 HF)

关键特性 • 拥有 HF 、HCI 和 NH₃ 中的单一气体或多气体配置 • 还能报告准确和精确的 H₂O 测量结果 • 标配 0 - 5 V 及模拟 4 - 20 mA 输出,可选 Modbus TCP • 优化的数据处理,使得能以最优的性能测量亚 ppb 级浓度 • 主密码保护可确保分析仪和数据安全 • 定制的标定和性能认证文件包 • 通过触摸屏进行气体浓度和分析仪状态的数字化显示 • 优化的零气性能,确保可靠地确认过程事件


关键词: 工业痕量气体分析仪(H₂O, NH₃, HCI 和 HF)


LGR-ICOS™ 工业用痕量气体分析仪能以最高的灵敏度、 准确度、精度和响应速度,满足客户最苛刻的要求:
•   对半导体晶圆厂的工艺流程和为了人身健康与安全而 进行气载分子污染物(AMC)监测
•   前开式晶圆传送盒(FOUP)和气相沉积室监测


简介
LGR-ICOS AMC 监测分析仪能以极高的精度和灵敏度,  对环境空气或惰性工业气流中的氟化氢、氯化氢、氨和 水蒸气进行高度灵敏地测量。该系列分析仪适用于进行 半导体应用中的气载污染物监测、FOUP 监测和各种惰 性气体背景下的测量,能以最佳的整体性能报告宽浓度 范围内的测量结果。

该 LGR-ICOS 痕量气体分析仪采用我们的离轴 ICOS 技术,也是第四代光腔增强吸收技术。该离轴  ICOS 技术相比传统的光腔衰荡光谱( CRDS )技术具  有许多优势, 包括性能更加稳健和可靠, 测量时间更短, 光腔和镜片可现场维修等。
所有 ABB 仪器都配有内部计算机(Linux OS) ,能将 每次分析的结果和被测气体的完整光谱都保存到内部硬 盘上以实现长期无人值守的运行。数据可以通过模拟、 数字( RS232 )和 Modbus 输出连续地导出。而且, 仪器可以通过互联网进行远程控制。通过远程访问,用 户可在无需到达现场的情况下,控制仪器,获取数据, 以及诊断故障。
这些 LGR-ICOS 分析仪操作简单,启动迅速(只需几 分钟) ,无需现场标定,且预防维护需求极少。和所有 ABB 分析仪一样,LGR-ICOS 工业痕量气体分析仪由我 们专业的服务和技术支持人员来支持。

 

 

规格

 

项目(气体)

H2O

NH3

精度( 1σ )

<50 ppm (1 s)      <20 ppm (10 s)   <10 ppm (100 s)

<1 ppb (1 s)
<0.3 ppb (10 s)
<0.1 ppb (100 s)

检测限( LOD)

50 ppm @ 100 s

0.3 ppb @ 100 s

准确度 *

>7,000 ppm

±0.3 ppb

= 1 % FSD

或读数的 5% ,取较大者

分析仪之间的差异 vs 平均值 ( 10sec.)

≤1000 ppm

±0.4 ppb

= ±10 %

或读数的 5% ,取较大者

线性量程

最高 30,000 ppm

最高 10,000 ppb

样气流速(lpm)                     1.4 - 2.4

 

HCI

HF

H2O

<0.3 ppb (1 s)

<0.1 ppb (1 s)

<25 ppm (1 s)

<0.1 ppb (10 s)

<0.05 ppb (10 s)

<20 ppm (10 s)

<0.035 ppb (100 s)

<0.025 ppb (100 s)

<5 ppm (100 s)

0.1 ppb @ 100 s

0.075 ppb @ 100 s

25 ppm @ 100 s

±0.15 ppb

±0.1 ppb

>7,000 ppm

= 1% FSD

±0.2 ppb

±0.2 ppb

≤1000 ppm

= ±10 %

HCI :最高 2,000 ppb
HF :最高 2,000 ppb

 

最高 30,000 ppm

1.1 - 1.9

 

响应时间( T90 ,T10)

25 s (HF/HCl) 、10 s (NH₃)

数据速率(用户可选择)

1 、10 、20 、100 秒

环境温度

0-45 °C( 32 - 122 °F)

环境湿度

<99%(无冷凝)

样气入口压力

分析仪入口处:  0 - 0.35 bar( 0 - 5 psig)

电源

170 W  (稳态)

输出信号

RS232C 、模拟、以太网、  USB 、Modbus TCP/IP

测量原理

离轴 ICOS( CEAS)

标定周期

不建议进行标定。典型验证周期 = 1 年

标志和认证

CE 、CSA 、IECEX CB Scheme

原产地

加拿大

 

* 适用于典型的半导体晶圆厂条件:在 19 ° C 至 23 ° C 的设定温度范围内,在最少 1h 内的温度变化为 ±1 ° C。
由于露点发生器的输出,水蒸汽准确度测试范围被限制在 7,000 ppm(含)以上。